近日,中國(guó)科學(xué)院沈陽(yáng)自動(dòng)化研究所在基于微透鏡成像研究方面取得新進(jìn)展,提出一種將原子力顯微鏡(AFM)與基于微透鏡的掃描光學(xué)顯微鏡相結(jié)合的無(wú)損、快速、多尺度關(guān)聯(lián)成像方法。相關(guān)研究成果(Correlative AFM and Scanning Microlens Microscopy for Time-Efficient Multiscale Imaging)發(fā)表在Advanced Science上。
AFM和掃描微透鏡關(guān)聯(lián)成像示意圖
半導(dǎo)體芯片成像結(jié)果
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