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微電子所在超低功耗集成電路與人工智能領(lǐng)域取得新進(jìn)展

稿件來(lái)源:感知中心 徐敏 責(zé)任編輯:ICAC 發(fā)布時(shí)間:2022-07-12

  近日,微電子所感知中心低功耗智能技術(shù)與微系統(tǒng)團(tuán)隊(duì)在低功耗集成電路設(shè)計(jì)與人工智能領(lǐng)域取得新進(jìn)展,成功研發(fā)出基于亞閾值技術(shù)的超低功耗基礎(chǔ)電路單元以及超低功耗語(yǔ)音關(guān)鍵詞識(shí)別技術(shù),可廣泛應(yīng)用于低功耗智能芯片與微系統(tǒng)。  

  功耗已成為制約集成電路發(fā)展的重要瓶頸。亞閾值技術(shù)通過(guò)將芯片工作電壓降低到晶體管的閾值電壓附近,可大幅降低數(shù)字系統(tǒng)的功耗。團(tuán)隊(duì)研發(fā)出nW級(jí)高精度上電復(fù)位電路[1],有效拓寬了該上電復(fù)位電路的應(yīng)用領(lǐng)域。測(cè)試結(jié)果表明,該上電復(fù)位電路功耗低至32nW,溫度系數(shù)低至227μV/°C(如圖1所示)。為適應(yīng)自供電系統(tǒng)等極低功耗應(yīng)用場(chǎng)景,團(tuán)隊(duì)研發(fā)了pW級(jí)上電復(fù)位電路[2],可靈活配置復(fù)位閾值電壓。測(cè)試結(jié)果表明,該上電復(fù)位電路功耗低至365pW,在不同配置下上電復(fù)位閾值電壓分別為0.76V0.46V,可廣泛應(yīng)用于極低功耗微系統(tǒng)(如圖2所示)。為適應(yīng)寬電壓范圍的極低功耗應(yīng)用場(chǎng)景,團(tuán)隊(duì)研發(fā)出pW級(jí)寬范圍電平轉(zhuǎn)換器[3],通過(guò)使用堆疊式上拉網(wǎng)絡(luò)(SPUN)和超關(guān)斷下拉網(wǎng)絡(luò)(SCPDN)改善了靜態(tài)漏電和翻轉(zhuǎn)能量(如圖3所示)SPUN可將輸出低電平時(shí)的漏電流減少至1/2SCPDN可將輸出高、低電平時(shí)的漏電流分別減少至1/7.61/18。測(cè)試結(jié)果顯示,該電平轉(zhuǎn)換器靜態(tài)功耗低至21.62 pW如圖4所示) 

  超低功耗語(yǔ)音關(guān)鍵詞識(shí)別是人工智能芯片的重要應(yīng)用領(lǐng)域。科研團(tuán)隊(duì)[4]首次提出了基于誤差擴(kuò)散的語(yǔ)音特征量化算法實(shí)現(xiàn)緊湊的二值化語(yǔ)音特征量化以降低語(yǔ)音喚醒模型運(yùn)算復(fù)雜度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,基于該算法的3bit語(yǔ)音特征在2關(guān)鍵詞任務(wù)下無(wú)精度損失,1bit下的精度損失僅1.5%如圖5所示)。 

  基于以上研究的成果近期先后發(fā)表于期刊《IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs(DOI: 10.1109/TCSII.2022.3164454,第一作者:游恒博士,通信作者:?jiǎn)虡渖窖芯繂T)、期刊《AEU - International Journal of Electronics and Communications (DOI: 10.1016/j.aeue.2022.154154 ,第一作者:游恒博士,通信作者:?jiǎn)虡渖窖芯繂T)、期刊《AEU - International Journal of Electronics and Communications( DOI: 10.1016/j.aeue.2021.154085,第一作者:博士研究生汪鵬,導(dǎo)師:周玉梅研究員)、期刊《IEEE Signal Processing Letters》( DOI: 10.1109/LSP.2022.3179208,第一作者:博士研究生羅孟杰,導(dǎo)師:周玉梅研究員)。  

  該研究得到國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃、中科院、所長(zhǎng)基金、行業(yè)部門、中科南京智能技術(shù)研究院等項(xiàng)目資助。   

  論文鏈接 

  [1] https://ieeexplore.ieee.org/document/9748884 

  [2] https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1434841122000516 

  [3]  https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1434841121004829 

  [4] https://ieeexplore.ieee.org/document/9785719/ 

   

  1anW級(jí)上電復(fù)位電路測(cè)試芯片顯微照片;(b)不同溫度下上電復(fù)位閾值電壓測(cè)試結(jié)果;(c)不同溫度下掉電復(fù)位閾值電壓測(cè)試結(jié)果。 

   

  2 apW級(jí)上電復(fù)位電路測(cè)試芯片顯微照片;(b)配置為高復(fù)位閾值電壓時(shí)測(cè)試波形圖;(c)配置為低復(fù)位閾值電壓時(shí)測(cè)試波形圖。 

   

  3 pW級(jí)寬范圍電平轉(zhuǎn)換器結(jié)構(gòu) 

   

  4  pW級(jí)寬范圍電平轉(zhuǎn)換器的瞬態(tài)電壓電流波形 

  

  5 英文單詞"happy"在不同量化算法下的梅爾頻譜圖 

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