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無需光刻膠也能實(shí)現(xiàn)MOF材料圖案化,精度優(yōu)于50nm

稿件來源:搜狐科技 責(zé)任編輯:ICAC 發(fā)布時間:2021-02-22

  金屬-有機(jī)骨架材料(MOF)在電子學(xué)和光子學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景,例如MOF的多孔性和低介電常數(shù)使其有望成為未來電子設(shè)備中高性能絕緣體的候選。不過,用于電子設(shè)備的前提是材料可以方便的進(jìn)行圖案化,而MOF材料的亞微米尺度圖案化正是目前制約其發(fā)展的主要挑戰(zhàn)之一。

   

  自上而下法圖案化。圖片來源: Chem. Soc. Rev. [1]  

  傳統(tǒng)的光刻工藝,包括預(yù)處理、涂布光刻膠、掩模版對齊、曝光、顯影、刻蝕、清除光刻膠等步驟。在基底上涂布一層光刻膠的過程,很容易對MOF這類微孔材料造成污染。而亞微米尺度的設(shè)計(jì)和直接加工策略,又遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足分辨率的要求。

   

  光刻示意圖。圖片來源:Wikipedia [2]  

  2016年,比利時 魯汶大學(xué)Rob Ameloot課題組曾在 Nature Materials 雜志上開發(fā)了MOF薄膜的化學(xué)氣相沉積,這是一種與工業(yè)芯片制造兼容的方法 [3]近日,該課題組又在 Nature Materials 雜志上發(fā)表封面文章,開發(fā)出一種 無光刻膠的X射線刻印(X-ray lithography,XRL)和電子束刻印(electron-beam lithography,EBL)方法可得到高分辨率(<50 nm)的高質(zhì)量圖案化MOF。該方法的關(guān)鍵在于 X-射線和電子束的照射改變鹵化ZIFs材料的可溶性,從而可以選擇性溶解除去目標(biāo)區(qū)域的材料。該方法不但避免了傳統(tǒng)光刻可能對其造成的損傷和污染,還可使得圖案化MOF的結(jié)晶度和孔隙率得以保持,并與現(xiàn)有的微納加工工藝具有良好的兼容性。

   

  當(dāng)期封面。圖片來源: Nat. Mater.  

   

  MOF的直接圖案化。圖片來源: Nat. Mater. [4]  

  X射線照射后白色的ZIF粉末變?yōu)樽厣琗RD結(jié)果表明,當(dāng)X射線劑量超過5 ?kJ?c m-3 ,ZIF薄膜失去結(jié)晶性,材料可能發(fā)生了化學(xué)變化。高能X射線照射MOF材料,產(chǎn)生了氯自由基,這些氯自由基可能引發(fā)C–C、C–N和Zn–N鍵的斷裂,使得材料由不溶而變得可溶,因此可以通過顯影(溶解)的方式選擇性去除目標(biāo)區(qū)域的材料。研究者利用高能X射線對ZIF-71薄膜進(jìn)行直接圖案化,掩模尺寸范圍在10~150 ?μm,最佳曝光劑量60~100 ?kJ?c m-3 ,得到的圖案邊緣十分清晰。

   

  XRL和EBL法對MOF材料圖案化。圖片來源: Nat. Mater.  

  單晶ZIF-8-dc-im(尺寸50~200 ?μm)也可以直接圖案化。X射線仿佛一把刀,將單晶“切”成棒狀,或者透過內(nèi)六邊形掩模版在晶體“打”出規(guī)則的六邊形孔。有趣的是,加工后的晶體,具有和加工前相同的晶胞參數(shù),說明XRL圖案化后,可以保持單晶的性質(zhì)不變。

   

  X射線對ZIF薄膜和單晶的圖案化。圖片來源: Nat. Mater.  

  為了進(jìn)一步提高分辨率,研究人員將相同的策略擴(kuò)展到電子束刻印。因?yàn)殡娮邮ぐl(fā)的效應(yīng)與X射線產(chǎn)生的光電子相似,而且無需掩膜,所以分辨率可以進(jìn)一步提升。ZIF-71薄膜在電子束的直接照射下,并隨后用DMSO顯影,獲得了低于50? nm的高分辨率圖案,邊緣清晰,這也是迄今為止報(bào)道的MOF材料圖案化最高的分辨率。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明最佳電子束劑量為~1000 μC?c m-2 ,劑量過低無法完成顯影,而較高的劑量由于電子散射會對材料造成損傷。

   

  ZIF-71薄膜的高分辨率EBL法圖案化。圖片來源: Nat. Mater.  

  “我們的目標(biāo)是消除光刻膠的影響,并保持高質(zhì)量的MOF圖案”,論文的第一作者M(jìn)in Tu說,“現(xiàn)在,是時候?qū)⑺鼈儜?yīng)用到微器件中了”。該方法不但避免了污染,而且還保持了MOF材料的孔隙率和結(jié)晶度,在微納電子領(lǐng)域有著光明的應(yīng)用前景。 [5] 

   

  圖案化MOF的特寫。圖片來源:KU Leuven [5]  

  不過,一個問題是如何將這種方法推廣到其他MOF材料,鹵素原子的存在應(yīng)該是實(shí)現(xiàn)ZIFs這類MOF材料溶解度改變的關(guān)鍵。這可能需要通過闡明MOF在輻照過程中降解的復(fù)雜機(jī)制來進(jìn)一步研究和探討,而關(guān)于MOF材料輻射化學(xué)的研究,目前還是一個相對未被開發(fā)的領(lǐng)域。

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