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金屬所發(fā)現(xiàn)快速升溫可大幅度提高Cu納米晶的熱穩(wěn)定性

稿件來源:金屬研究所 責(zé)任編輯:ICAC 發(fā)布時間:2020-04-28

  納米金屬由于引入了大量的晶界而導(dǎo)致穩(wěn)定性差。一般而言,納米晶的晶粒長大溫度遠(yuǎn)低于粗晶的再結(jié)晶溫度,一些納米晶純金屬甚至在室溫下即發(fā)生長大。穩(wěn)定性差已經(jīng)成為限制納米金屬制備和應(yīng)用的主要瓶頸。傳統(tǒng)的穩(wěn)定納米晶方法主要是通過合金化來降低界面能或?qū)Ы邕w移形成拖曳作用。 

  中國科學(xué)院金屬研究所沈陽材料科學(xué)國家研究中心納米金屬科學(xué)家工作室近年來在納米金屬的穩(wěn)定性方面開展了系統(tǒng)的研究工作。2018年,工作室研究人員在塑性變形制備的納米晶純銅和純鋁中發(fā)現(xiàn)了納米晶熱穩(wěn)定性的反常晶粒尺寸效應(yīng),即小于臨界尺寸,隨著晶粒尺寸減小,材料的變形機(jī)制由全位錯主導(dǎo)轉(zhuǎn)變?yōu)椴蝗诲e主導(dǎo),晶界弛豫機(jī)制啟動,納米晶的穩(wěn)定性不降反升(Science, 360, 2018)。隨后,他們發(fā)現(xiàn),盡管與加熱條件下的晶界遷移的內(nèi)在機(jī)制不同,納米晶在受力條件下的機(jī)械穩(wěn)定性也存在這種反常晶粒尺寸效應(yīng)(Phys Rev Lett, 122, 2019)。該項(xiàng)研究被Science A size limit for softening 為題推選為亮點(diǎn)工作(Science, 364, 2019)。 

  然而,目前常用的嚴(yán)重塑性變形方法(如等通道擠壓、疊軋等)制備的純金屬,其晶粒尺寸通常在亞微米尺度,很難在加工過程中啟動晶界弛豫機(jī)制。例如,嚴(yán)重塑性變形制備的純銅晶粒尺寸多處于100-200 nm,穩(wěn)定性較差,其晶粒長大溫度遠(yuǎn)低于粗晶。近期,工作室李秀艷等人的研究發(fā)現(xiàn),利用快速升溫可以在納米晶銅中引入退火孿晶,從而實(shí)現(xiàn)納米晶晶界的“熱弛豫”,提高納米晶的熱穩(wěn)定性。在納米晶銅中引入退火孿晶面臨的一個難題是:不穩(wěn)定的納米晶,其晶粒長大穩(wěn)定度僅為393 K,遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于退火孿晶產(chǎn)生的溫度(~523 K),加熱過程中未等產(chǎn)生孿晶,晶粒先已長大。研究人員依據(jù)Kissinger效應(yīng),提出增加升溫速率,可以提升晶粒長大溫度,而不影響孿晶生長溫度。因此,采取快速升溫既避免了晶粒長大,又可產(chǎn)生生長孿晶。將晶粒尺寸80 nm左右的純Cu,以160 K/min的速率快速升溫至523 K保溫15 min再冷卻,材料晶粒尺寸沒有明顯變化,而孿晶數(shù)量明顯增加。與變形孿晶一樣,這些生長孿晶也可以弛豫晶界,增強(qiáng)納米晶的熱穩(wěn)定性。熱處理后,納米晶的明顯長大溫度從原來的低于393 K升高至773 K以上。 

  快速升溫提高納米晶穩(wěn)定性的熱弛豫方法可以用于提高一般嚴(yán)重塑性變形所獲得的亞微米和納米晶的穩(wěn)定性,對于發(fā)展高穩(wěn)定納米材料和推動納米金屬的應(yīng)用具有重要意義。該項(xiàng)工作發(fā)表于Science Advances, 6,(2020)。 

  該工作受到科技部重點(diǎn)研發(fā)計劃、國家自然科學(xué)基金以及中科院項(xiàng)目支持。 

   

  圖1. 快速加熱穩(wěn)定納米晶銅。(A)制備態(tài)樣品及分別以不同升溫速率(1,80,160K/min)加熱至523K的樣品的表層梯度納米結(jié)構(gòu)的典型橫截面掃描電鏡照片。(B-D)制備態(tài)樣品及不同升溫速率加熱處理后的樣品中距表面~25μm深度處納米晶典型透射照片(對應(yīng)深度如圖A中虛線框所示,該深度處制備態(tài)樣品平均晶粒尺寸約為80nm)。(E)以不同升溫速率加熱至523K處理后的樣品中表層穩(wěn)定納米晶對應(yīng)晶粒尺寸范圍。圖中實(shí)心和空心圓點(diǎn)分別代表實(shí)驗(yàn)觀察到穩(wěn)定納米晶層的上下界所對應(yīng)晶粒尺寸,虛線表示制備態(tài)樣品在523K熱處理時穩(wěn)定納米晶的平均晶粒尺寸上界(D*~60nm),誤差棒指平均晶粒尺寸的統(tǒng)計標(biāo)準(zhǔn)誤差。

   

  圖2. 快速加熱后納米晶內(nèi)部形成大量孿晶且晶界平面化。(A)圖1D中所示區(qū)域內(nèi)納米晶的典型高分辨照片,左上角插圖為晶粒中納米孿晶的原子像圖片。(B, C)制備態(tài)樣品和以160K/min升溫速率加熱至523K處理后樣品中典型晶界特征分布。不同顏色代表不同類型晶界,紅色為孿晶界,灰色為小角晶界,黑色為普通大角晶界,其他顏色為其他特殊重位點(diǎn)陣界面(Σ < 29)。(D, E)圖1D所示區(qū)域內(nèi)的典型晶界高分辨照片,左上角插圖為紅色實(shí)線框放大圖。

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