10月19—21日，微電子所硅器件與集成研發中心科研人員應邀參加2015年電子元器件輻射效應國際會議（ICREED-2015）。
ICREED會議主要涉及輻射環境下電子材料、器件及系統的輻射損傷效應和機理、加固工藝、加固設計及評價技術，是相關領域具有重要影響力的國際會議。本次會議邀請了美國、德國、俄羅斯、意大利、烏克蘭、歐洲空間局及國內著名空間輻射效應專家作特邀報告。
本次會議，微電子所共提交了5篇學術論文，內容涵蓋SOI電路和VDMOS器件相關可靠性、輻照效應和加固技術等領域。與會期間，微電子所科研人員通過會議演講、海報、展板和研討交流等方式介紹了微電子所在高可靠集成電路技術領域的科研進展和取得的成績，并與國內外參會專家進行了深入溝通和探討，進一步拓展了國際視野，提升了微電子所科研工作的國內外影響力。
參會人員合影
綜合信息