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中科院EDA中心舉辦Synopsys Sentaurus TCAD技術研討會

稿件來源: 發布時間:2012-04-17

  4月11日,中科院EDA中心在京舉辦Synopsys Sentaurus TCAD技術研討會,并邀請Synopsys高級市場部經理John Wang擔任主講。中科院在京科研院所的40余名科研人員參加了會議。

  Sentaurus TCAD提供了一整套完整的、行業領先的工藝與器件仿真及分析工具組件,適用于研發高端CMOS器件、功率器件、存儲器件、光電子器件、模擬/射頻(RF)、激光器件、太陽能電池及其制造工藝。該工具與Raphael一起使用可以有效地支持器件和互連線的建模和參數提取,并能給出優化芯片性能所需的關鍵寄生信息。

  研討會以當今世界半導體工業背景、發展趨勢、經濟脈搏等總體概覽為開端,John Wang經理簡要介紹了包括阻抗場法、單次仿真擾動、圖形庫組合等技術在內的Sentaurus TCAD工具的最新關鍵技術研究成果及其在相關器件和工藝研發方面的應用,具體介紹了F-2011.09版本產品的支持復雜結構器件的新功能、采用新算法帶來的計算性能大幅提升、對波動仿真和分析能力的提升等優勢,以及工具在Tri-Gate SRAM器件和工藝研發方面的實際應用情況。會上,雙方就Synopsys公司在TCAD上的技術優勢、未來發展趨勢和產品發展路線圖等問題進行了深入的交流和探討。

  本次研討會是中科院EDA中心聯合Synopsys服務客戶、推進國家相關重大專項順利實施高端器件和工藝研發的重要活動,同時也有益于布局未來國家重大專項相關任務特別是14納米器件和工藝的研發任務。

研討會現場

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