11月21日，中佛羅里達大學Juin J. Liou教授來微電子所進行學術交流，作了題目為Electrostatic Discharge (ESD) Protection of Modern and Future Integrated Circuits的精彩報告，并就集成電路中的靜電保護與師生等進行了深入的交流和討論。

　　報告中，Juin J. Liou教授首先介紹了“靜電”是什么和如何產(chǎn)生的，通過自然界的閃電和日產(chǎn)生活中的靜電現(xiàn)象，深入淺出地引出了集成電路中的靜電現(xiàn)象、其對電路中核心芯片的嚴重危害和電路靜電保護的重要性。隨后，他介紹了三種靜電模型：人體模型、器件充放電模型和機械模型。Juin J. Liou教授認為有兩種消除靜電的措施，包括環(huán)境控制和使用二極管等器件保護，其中使用器件保護晶片是最常用、最經(jīng)濟的靜電保護方法。在介紹芯片靜電測試的程序設備和其科研小組在靜電保護方面的研究案例時，通過如汽車電子芯片的靜電保護和晶片與核心芯片分開的靜電保護等案例，使在做師生更具體、深刻、直觀地了解了芯片靜電保護的各種方法。報告的最后，老師、同學們就靜電保護研究中遇到的一些問題與Juin J. Liou教授展開了激烈的討論。

　　Juin J. Liou教授在1982年，1983年和1987年分別獲得了佛羅里達大學的電氣工程專業(yè)的榮譽學士學位、碩士學位和博士學位。 1987年，他加入了中佛羅里達大學（UCF）的電氣工程和計算機系。現(xiàn)在他是中佛羅里達大學飛馬特聘教授和的模擬器件研究員。他目前的研究興趣是微/納米電子計算機輔助設計，射頻器件模型與仿真和靜電保護的電路設計和仿真。擁有7項美國專利，發(fā)表過9本書籍和240多篇期刊論文（包括16個邀請文章），以及在國際和國家會議論文集中發(fā)表了190多篇論文（包括78個主題演講或邀請論文）。此外，Juin J. Liou教授還擔任了很多社會職位（比如中國長江學者和IEEE電子器件協(xié)會的理事會成員等）和獲得了很多獎項及榮譽（例如：在教學和科研上的卓越表現(xiàn)而獲得來自中佛羅里達大學的十個不同獎項和從IEEE獲得的6個不同獎項等）。