5月9日，美國馬里蘭大學(xué)Michael Pecht教授來微電子所做學(xué)術(shù)交流，并作了題為《電子產(chǎn)品考核的進階方法》的報告。微電子所科研人員、研究生共50余人參加了交流活動。 

　　Michael Pecht在報告中簡要介紹了美國馬里蘭大學(xué)及計算機輔助產(chǎn)品壽命周期工程中心的基本情況，分享了其課題組在微電子可靠性考核與預(yù)測方面的最新研究進展。他回顧了當(dāng)前普遍應(yīng)用的電子產(chǎn)品考核方法，討論了現(xiàn)有方法在有效性、時效性等方面的問題與不足，提出了一種新型的融合實驗數(shù)據(jù)與失效物理為基礎(chǔ)的可靠性預(yù)測方法。該方法根據(jù)電子產(chǎn)品隨著時間從正常工作狀態(tài)開始退化或發(fā)生偏移的過程來評估和預(yù)測產(chǎn)品的未來可靠度。會后，Michael Pecht與微電子所相關(guān)科研人員進行了座談，解答了微電子可靠性方面的疑問，并展開了充分討論。 

　　Michael Pecht現(xiàn)任美國馬里蘭大學(xué)計算機輔助產(chǎn)品壽命周期工程中心主任，馬里蘭大學(xué)機械工程系、應(yīng)用數(shù)學(xué)系的首席教授。2008年獲產(chǎn)品可靠性方面的最高榮譽——IEEE可靠性協(xié)會的終身成就獎。 

交流會現(xiàn)場