3月22日，中科院EDA中心舉辦Why Design for Test (DFT) and Where It Goes（可測試性設計及其前瞻）技術研討會，美國Mentor Graphics公司可測試性設計前瞻性研究組資深工程師賴李洋博士作技術報告，來自計算所、中科微公司及微電子所20余名科研人員參加研討會。

　　賴李洋博士的報告圍繞可測試性設計技術和數(shù)字電路的測試性問題，介紹了DFT特征在后硅驗證和調(diào)試中的作用，物理故障分析、良率分析和可制造性設計中的故障診斷數(shù)據(jù)算法。報告還闡述了貫穿于整個設計流程的DFT解決方案，以及這些解決方案如何有效提高產(chǎn)品質(zhì)量同時降低測試成本并提速生產(chǎn)，幫助IC公司更加迅速地將產(chǎn)品推向市場。與會人員與賴李洋博士還就DFT相關問題進行了深入交流。

　　賴李洋博士畢業(yè)于美國伊利諾伊大學電子與計算機工程學系，畢業(yè)后一直任職于美國Mentor Graphics公司，主要從事集成電路可測試性設計（Design For Test），驗證，故障診斷（Diagnosis），Silicon Debug等研究。

研討會現(xiàn)場