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科研動態(tài)

微電子所新型高功函數(shù)異質(zhì)結(jié)X射線硅漂移探測器研究獲得進展

稿件來源:高頻高壓中心 韓超 發(fā)布時間:2020-02-28

  近日,微電子所高頻高壓中心賈銳研究員團隊,在歐陽曉平院士指導(dǎo)下,創(chuàng)新性地將高功函數(shù)鈍化接觸異質(zhì)結(jié)技術(shù)應(yīng)用到硅漂移探測器(SDD)中,成功研制出新型SDD核心元器件。目前,該團隊在硅異質(zhì)結(jié)漂移探測器的器件設(shè)計、工作機理和工藝制備等方面形成了核心競爭力,并具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)。 

      硅漂移探測器是高能粒子探測領(lǐng)域能量分辨率最高的探測器之一,主要用于探測高能粒子和X射線,具有靈敏度高、能量分辨率高和計數(shù)率高等優(yōu)點,在天文觀測、醫(yī)療和安檢等關(guān)鍵領(lǐng)域有著重要應(yīng)用。由于傳統(tǒng)SDD器件制備需要完全依賴微電子工藝和設(shè)備,難度大、成本高,該器件及其高端探測設(shè)備的相關(guān)技術(shù)和市場長期被發(fā)達國家所壟斷,且只能制備面積小于等于100 mm2的器件。 

  為加快實現(xiàn)SDD器件的國產(chǎn)化,微電子所賈銳研究員團隊開展了SDD探測芯片的核心技術(shù)攻關(guān),通過采用異質(zhì)結(jié)及其平面工藝來制備SDD,極大降低了暗態(tài)漏電流(nA級別),在降低制備成本的同時提升了器件的可靠性。最終,該團隊成功研制出面積分別為20 mm279 mm2314 mm2的硅漂移探測器,可清晰探測到55Fe發(fā)射的能量為5.9 keVX射線,同時可探測到241Am等放射源發(fā)射出的阿爾法粒子和X射線。 

  相應(yīng)的系列研究成果發(fā)表在Solar EnergySolar Energy Materials & Solar Cells等國際刊物上。 

 

1.四寸晶圓上不同面積的硅漂移探測器  

2. 快速探測和捕獲到的高分辨X射線單光子波形 

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